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Unbesetzte elektronische Zustände von Halbleiteroberflächen

Fachliche Zuordnung Experimentelle Physik der kondensierten Materie
Förderung Förderung von 1999 bis 2009
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5198104
 
Die energetische Lage und Dispersion unbesetzter elektronischer Zustände von Grenzflächen ist von großer Bedeutung für elektronische Transportprozesse und die photoinduzierte Dynamik adsorbierter Moleküle. Insbesondere die Systeme mit großer Bandlücke erlauben eine detaillierte Untersuchung solcher Zustände, was in diesem Vorhaben mittels inverser Photoemission durchgeführt werden soll. Konkret werden die energetische Lage und Dispersion unbesetzter Zustände von sauber präparierten kubischen 3C-SiC(001) und hexagonalen 4H-SiC(0001) mit verschiedenen Oberflächenrekonstruktionen bestimmt. Desweiteren sollen exydierte 4H-SiC(0001) Oberflächen untersucht werden, welche bei der Produktion von MOS-Strukturen von großer Wichtigkeit sind. Die experimentellen Ergebnisse werden direkt mit neuen theoretischen ab initio Rechnungen verglichen.
DFG-Verfahren Sachbeihilfen
 
 

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