Dünnschicht-Diffraktometer

• Fachliche Zuordnung: Materialwissenschaft
• Förderung: Förderung in 2009
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 123579197

Das beantragte Dünnschicht-Diffraktometer dient zur Aufklärung der Struktur dünner epitaktischer Schichten. Im Fachbereich Materialwissenschaft sind In den letzten Jahren zwei hochmoderne Dünnschichtsysteme zur gepulsten Laserdeposition (PLD) und reaktiver Molekularstrahlepitaxie (MBE) aufgebaut worden, an denen täglich mehrere Schichten hergestellt werden. Dies macht die Anschaffung eines modernen und auf dem neuesten Stand der Technik befindlichen Dünnschicht-Diffraktometers unabdingbar. Anforderungen an das Diffraktometer sind hoher Röntgenfluss, hohe Auflösung zur Bestimmung von Gitterparametern und Auflösung von Überstrukturreflexen in komplexen Multischichtsystemen, die Möglichkeit zur Röntgenreflektometrie und zum schnellen Abtasten des reziproken Raums, sowie entsprechende Auswertungsprogramme.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 4011 Pulverdiffraktometer
• Antragstellende Institution: Technische Universität Darmstadt
• Leiter: Professor Dr. Lambert Alff