Dünnschicht-Diffraktometer

• Subject Area: Materials Science
• Term: Funded in 2009
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 123579197

Das beantragte Dünnschicht-Diffraktometer dient zur Aufklärung der Struktur dünner epitaktischer Schichten. Im Fachbereich Materialwissenschaft sind In den letzten Jahren zwei hochmoderne Dünnschichtsysteme zur gepulsten Laserdeposition (PLD) und reaktiver Molekularstrahlepitaxie (MBE) aufgebaut worden, an denen täglich mehrere Schichten hergestellt werden. Dies macht die Anschaffung eines modernen und auf dem neuesten Stand der Technik befindlichen Dünnschicht-Diffraktometers unabdingbar. Anforderungen an das Diffraktometer sind hoher Röntgenfluss, hohe Auflösung zur Bestimmung von Gitterparametern und Auflösung von Überstrukturreflexen in komplexen Multischichtsystemen, die Möglichkeit zur Röntgenreflektometrie und zum schnellen Abtasten des reziproken Raums, sowie entsprechende Auswertungsprogramme.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 4011 Pulverdiffraktometer
• Applicant Institution: Technische Universität Darmstadt
• Leader: Professor Dr. Lambert Alff