Mikroskop-Spektrometer-Kombination

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung von 2008 bis 2011
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 69895939

In der materialwissenschaftlichen Forschung an der Technischen Universität Clausthal nimmt die Entwicklung und Charakterisierung neuer Materialsysteme und Werkstoffe einen breiten Raum ein. Eine Materialanalytik mit der Möglichkeit der hochauflösenden Mikroskopie bei gleichzeitiger hochauflösender chemischer Analyse der relevanten abgebildeten Strukturen ist weder an der TU Clausthal noch im Umfeld vorhanden. Im Hinblick auf eine hohe laterale Auflösung vor allem im elementspezifischen Modus und auf eine breite Anwendbarkeit bei möglichst geringem Präparationsaufwand ist eine Auger-Nanosonde der höchsten Leistungsklasse das Gerät der Wahl. Solche Geräte erreichen Spezifikationen, die im Sekundärelektronenmikroskopie(SEM)-Modus kaum von denen hochauflösender Rasterelektronenmikroskope mit Feldemittern abweichen, liefern aber eine hohe Strahlstromdichte, die für eine effiziente chemische Analyse notwendig ist. Insbesondere bietet eine Auger-Nanosonde folgende für die elementspezifische Materialanalytik wesentliche Vorteile: Hohe laterale Grenzauflösung, hohe Empfindlichkeit für leichte Elemente, weitergehende chemische Informationen, Tiefeninformation, Aufnahme von Tiefenprofilen, Untersuchung von Nichtleitern möglich.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 1780 Photoelektronenspektrometer (UPS und XPS)
• Antragstellende Institution: Technische Universität Clausthal
• Leiter: Professor Dr. Winfried Daum