Bewertung der Zuverlässigkeit (B03)

• Fachliche Zuordnung: Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
• Förderung: Förderung seit 2025
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 528378584

Bei der Einführung neuer elektronischer Bauteile – sowohl für Logik- als auch für Speicheranwendungen – in praktische Systeme ist die Zuverlässigkeit oft der begrenzende Faktor. In diesem TRR erwarten wir neue Zuverlässigkeitseffekte, da wir BEOL-kompatible Materialien und Prozesse verwenden, die eine inhärent höhere Defektdichte aufweisen, sowie neuartige Bauelementearchitekturen, die neue Fehlermechanismen bewirken können. Die Aufgabe dieses Projekts besteht darin, die Zuverlässigkeit auf der Ebene der Bauelemente bereits in einer frühen Phase zu bewerten, den Projekten des Forschungsbereichs A Rückmeldungen für erforderliche Verbesserungen auf Bauelementeebene zu geben und eine Datenbank aufzubauen, die in Phase 2 und 3 verwendet werden kann, um maßgeschneiderte Fehler- und Degradationsmodelle und Strategien zur Erhöhung der Fehlertoleranz im Hinblick auf die festgestellten Zuverlässigkeitsprobleme zu entwickeln.

• DFG-Verfahren: Transregios
• Teilprojekt zu: TRR 404: Zukunftsweisende Elektronik durch aktive Bauelemente in drei Dimensionen (Active-3D)
• Antragstellende Institution: Technische Universität Dresden
• Mitantragstellende Institution: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
• Teilprojektleiter: Dr.-Ing. Benjamin Max