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Projekt
OnE-Secure - Absicherung moderner Chips gegen Angriffe mit Hilfe hochauflösender berührungsloser optischer und Elektronenstrahlprüfung
Antragsteller
Dr.-Ing. Sebastian Brand; Professor Dr. Rolf Drechsler; Professor Dr. Jean-Pierre Seifert; Dr.-Ing. Frank Sill Torres
Fachliche Zuordnung
Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
Förderung
Förderung seit 2024
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 535696594
Dieses Projekt gehört zum Bereich 1 (Nanoelektronik für die Sicherheit) und zur interdisziplinären Gruppe IG3 (Resilienz gegen physische Angriffe) der Matrix dieses Schwerpunktes. Physikalische Hardware-Angriffe, insbesondere optische Angriffe über die Chiprückseite, haben sich als Bedrohung für geheime Daten und geistiges Eigentum erwiesen, die auf integrierten Schaltkreisen (ICs) gespeichert sind. Techniken aus der IC-Fehleranalyse, wie Optische Prüfung (Englisch: optical probing - OP), können kryptografische Schlüssel, Konfigurationsdaten oder andere Geheimnisse extrahieren. In jüngster Zeit hat die Elektronenstrahlprüfung (Englisch: electron beam probing - E-Beam) aufgrund der Nachfrage der Fehleranalyse-Industrie nach Werkzeugen mit höherer Auflösung mehr Aufmerksamkeit erlangt. Obwohl die Bedrohung durch Angriffe bekannt ist, wurden bisher noch keine entsprechenden Gegenmaßnahmen in kommerziellen Chips eingesetzt. Ausgehend von dieser Beobachtung zielt dieses Projekt darauf ab, Methoden zu erforschen, mit denen künftige Nanoschaltungen vor Angriffen durch "Optical and E-beam" (OnE) Prüfungen geschützt werden können. Durch die Zusammenführung der in den Projekten OptiSecure und nanoEBeam aus dem ersten Aufruf gewonnenen Fachkenntnisse in einem einzigen Projekt mit vier Partnern wird in diesem vereinten Projekt die Erforschung alternativer Chipdesigns fortgesetzt, die gegen die beiden vorgenannten Techniken robust sind. In diesem Zusammenhang wird ein Simulator für die E-Beam-Sondierung entwickelt, um Messergebnisse vorherzusagen und damit die Entwicklung von Gegenmaßnahmen zu unterstützen. Darüber hinaus werden im Rahmen des Projekts neue Angriffsvektoren der mit Hilfe von "OnE" untersucht, "OnE" zur Erkennung von Hardware-Trojanern eingesetzt und formale und nicht-formale Verifikationsmethoden angewandt, um die Sicherheit von Schaltkreisen gegen OnE-Angriffe zu beweisen.
DFG-Verfahren
Schwerpunktprogramme
