Ultrahochvakuum-Tieftemperatur-Rastersondenmikroskop (UHV-LTSPM)

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung von 2020 bis 2021
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 444728977

Das Ultrahochvakuum-Tieftemperatur-Rastersondenmikroskop (UHV-LTSPM) dient der genauen Bestimmung der geometrischen und elektronischen Struktur fortgeschrittener zweidimensionaler (2D) Materialien und ist damit ein Schlüsselinstrument im Forschungsgebiet „Nanoscience and Nanotechnology“. Es ermöglicht uns, Nanomaterialien mit Methoden der Oberflächenforschung zu präparieren und zu charakterisieren. Insbesondere ist mit dem LTSPM Spektroskopie in höchster Orts- und hoher Energieauflösung möglich. Mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) können über unsere bisherigen Arbeiten hinaus einzelne chemische Bindungen sowie schlecht leitende Systeme analysiert werden. Die Apparatur erweitert den uns zugänglichen Temperaturbereich signifikant.Im Einzelnen sollen an der Anlage folgende Themen behandelt werden: (i) Korrelierte Elektronen in 2D-Metallen, (ii) Heterostrukturen von Dichalkogeniden der Übergangsmetalle als Modellsysteme für ultradünne Schaltkreise, (iii) Klassifizierung und Bestimmung der elektronischen Eigenschaften von Defekten in hexagonalem Bornitrid (potenzielle Einzelphotonenquellen), (iv) Erforschung ultradünner Ferroelektrika (z. B. GeSe) als mögliche Materialien für Sensoren und nichtflüchtige Speicher, und (v) Charakterisierung epitaktisch gewachsener Zinnperowskite als alternative Materialien für die Photovoltaik, insbesondere mit Blick auf den Einfluss von Störstellen.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Ultrahochvakuum-Tieftemperatur-Rastersondenmikroskop (UHV-LTSPM)
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Siegen
• Leiter: Professor Dr. Carsten Busse