200kV Raster-Transmissionselektronenmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Materialwissenschaft
• Förderung: Förderung in 2019
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 424832238

Der Forschungsschwerpunkt "Kiel Nano, Surface and Interface Science (KiNSIS)" der CAU Kiel sowie die mit KiNSIS assoziierten Exzellenzcluster, Graduiertenschulen und Sonderforschungsbereiche befassen sich mit modernen (Nano)Materialien und sind somit ohne Elektronenmikroskopie nicht vorstellbar. Die aktuell installierten Raster- (REM) und Transmissionselektronenmikroskope (TEM) in Kiel können aufgrund ihrer begrenzten Leistungsfähigkeit bzw. der Tatsache, dass sie bei weitem nicht dem aktuellen Stand der Technik entsprechen, nur für Vor- und Routineuntersuchungen eingesetzt werden. Die über die Fakultätsgrenzen hinweg verbindenden Drittmittelprojekte verlangen aber einen erheblichen Anteil an chemischen und strukturellen Nanoanalysen auf einem Niveau, wie es nur von einem modernen Mikroskop erbracht werden kann. Mit dem vorliegenden Antrag soll nun erstmals in Kiel ein aberrationskorrigiertes Scanning TEM (STEM) beschafft werden, welches die experimentellen Möglichkeiten vor Ort entscheidend erweitert, etwa durch die Realisierung atomarer Auflösung von Ordnungszahl-abhängigen (Z-Kontrast) Abbildungen sowie der Möglichkeit, über einen modernen Röntgendetektor (EDX) und Elektronenverlustspektroskopie (EELS) chemische Analysen nahe atomarer Auflösung durchzuführen.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: 200kV Raster-Transmissionselektronenmikroskop (Teilfinanziert)
• Gerätegruppe: 5100 Elektronenmikroskope (Transmission)
• Antragstellende Institution: Christian-Albrechts-Universität zu Kiel
• Leiter: Professor Dr. Lorenz Kienle