Rasterkraftmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2016
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 321288482

Das schnell scannende, hochauflösende Rasterkraftmikroskop soll zur Erforschung und Charakterisierung neuartiger Materialien mit maßgeschneiderten physikochemischen Eigenschaften dienen. Schwerpunkte liegen hier auf der Untersuchung von nanoskaligen (Kohlenstoff-)Materialien (Nanoröhren, Graphen) und deren Anwendungspotential z.B. in photovoltaischen Systemen, aber auch auf der Untersuchung von Filmen und Oberflächen und deren Veränderungen in Lösung. Die Forschung ist im höchsten Maße interdisziplinär. Hier soll das AFM eingesetzt werden, um die Entwicklung neuer bzw. die Optimierung bereits bestehender Verfahren z.B. zur Bildung homogener Schichten oder zur Herstellung und Funktionalisierung von Nanomaterialien nachhaltig zu stärken. Ein vergleichbares Gerät ist am Department Chemie und Pharmazie in Erlangen nicht vorhanden. Die an anderen Fakultäten vorhandenen Rasterkraft-Mikroskope sind nicht im erforderlichen Umfang zugänglich und erfüllen nicht die teilweise hohen bzw. speziellen Anforderungen (z.B. fehlen diverse AFM Modi, die Möglichkeit des Messens in Flüssigkeiten oder die Möglichkeit des schnellen Rasterns, um auch Wachstumsprozesse / Veränderungen auf Oberflächen in Lösung besser verfolgen zu können).

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Rasterkraftmikroskop
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
• Leiter: Professor Dr. Dirk M. Guldi