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Bestimmung inhärenter Kinetiken chemischer Reaktionen in flüssiger Phase im Flachbettmikroreaktor

Fachliche Zuordnung Chemische und Thermische Verfahrenstechnik
Förderung Förderung von 2006 bis 2012
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 28934216
 
Erstellungsjahr 2012

Zusammenfassung der Projektergebnisse

Die im Antrag formulierten Ziele hinsichtlich der experimentellen und methodischen Entwicklung sind erreicht worden: 1) Anpassung der experimentellen Voraussetzungen hinsichtlich Stationarität (Reaktortechnik) u. jeweiliger Erfassbarkeit mittels konfokaler LIF und Raman-Spektroskopie für ein spezifisches Stoffsystem (Upgrade gamma-Raman-System). 2) Methode zur Bestimmung der Kinetik im FMR ist hinsichtlich Stationarität und Betriebsbedingungen optimiert. 3) Methodische Erweiterung der optische Analytik (SERS, Multiline-Analyse) hinsichtlich der Detektion hochverdünnter Spezies und zur genaueren Parameterbestimmung (differentielle Messtechnik). 4) Quantifizierung von hochverdünnten Spezies und die Erfassung von Konzentrationsfeldern im FMR ist etabliert. Hinsichtlich der Sulfitoxidation wurde ihre Eignung für die Untersuchung der Reaktionskinetik im FMR in Frage gestellt, so dass alternative Stoffsysteme untersucht wurden. Sie bedürfen aber noch der weiteren Analyse und Anwendung.

Projektbezogene Publikationen (Auswahl)

  • Modellbasierte Bestimmung lokal gültiger Kinetiken chemischer Reaktionen in Flüssigphase mittels Flachbettmikroreaktor. Chemie Ingenieur Technik, Vol. 82. 2010, Issue 3, pp. 251–258.
    H.-J. Warnecke, D. Bothe, G. Berth, K.-P. Hüsch, A. Zrenner
    (Siehe online unter https://dx.doi.org/10.1002/cite.200900169)
  • Oxygen sensing by fluorescence quenching of [Cu(btmgp)I]. Journal of Luminescence, Vol. 130. 2010, Issue 10, pp. 1958–1962.
    S. Herres-Pawlis, G. Berth, V. Wiedemeier, L. Schmidt, A. Zrenner and H.-J. Warnecke
    (Siehe online unter https://dx.doi.org/10.1016/j.jlumin.2010.05.012)
  • In-situ characterization of ZnTe epilayer irradiation via time-resolved and power density dependent Raman spectroscopy. Semiconductor Science and Technology, Vol. 26. 2011, Number 10, 105023.
    V. Wiedemeier, G. Berth, A. Zrenner, E.M. Larramendi, U. Woggon, K. Lischka and D. Schikora
    (Siehe online unter https://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/26/10/105023)
 
 

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