Rasterkraftmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2015
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 280372919

Um den neuen wissenschaftlichen Schwerpunkt (organische Elektronik und lösungsprozessierte Funktionsschichten) des Lehrstuhls für Angewandte Physikalische Chemie als auch der kooperierenden Arbeitsgruppen (Backes, Vaynzof) zu verwirklichen ist ein modernes Rasterkraftmikroskop (AFM) mit zusätzlichen Messmodi notwendig. Die angestrebten Proben umfassen in erster Linie weiche organische Materialien (z.B. halbleitende Polymere und Polymermischungen), Netzwerke von Kohlenstoffnanoröhrchen und zwei-dimensionale Materialien (z.B. Graphen, schwarzer Phosphor). An der Universität Heidelberg gibt es derzeit kein System, wasdie folgenden Anforderungen zur vollständigen Charakterisierung dieser Arten von Proben erfüllt: Topographie im tapping und contact mode auf Proben bis 3x3 cm, quantitative mechanische Oberflächencharakterisierung, hochaufgelöste, hochempfindliche und zerstörungsfreie Leitfähigkeitsmessungen (conductive AFM, current sensing AFM), elektrische Feldstärkemikroskopie (EFM) und Oberflächenpotentialmessungen (Kelvin probe, KPFM). Das beantragte System erfüllt alle genannten Anforderungen und ermöglichtdamit eine Reihe von Forschungsprojekten, die direkt oder indirekt von diesen Messmethoden abhängen. Es erlaubt durch seine Bedienungsfreundlichkeit einen Betrieb mit vielen Nutzern und somit maximale Auslastung.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Rasterkraftmikroskop
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg
• Leiterin: Professorin Dr. Jana Zaumseil