Rasterkraftmikroskop (FastScan AFM)

• Fachliche Zuordnung: Mineralogie, Petrologie und Geochemie
• Förderung: Förderung in 2014
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 268086966

Für die Durchführung der laufenden und geplanten Projekte ist der Einsatz eines Rasterkraftmikroskops zwingend notwendig. Erst die hohe Ortsauflösung eines AFM ermöglicht wichtige Untersuchungen, die komplementär zu Topographiemessungen mit Interferometriemikroskopie zum Erreichen der Projektziele benötigt werden. Die AFM-Daten ermöglichen eine wichtige Brücke zwischen den Ergebnissen auf atomarer und molekularer Ebene, die durch kMC-Modellierungen erzielt werden und den Topographiedaten über große Gesichtsfelder (Interferometrie). Diese Kombination hat das Potential, ein Zentrum der Materialoberflächenforschung von internationaler Bedeutung zu werden. Ein schnellscannendes AFM ermöglicht in-situ-Analytik an vergleichsweise schnell reagierenden Materialoberflächen und stellt geeignet große Gesichtsfelder bereit. Zudem benötigen diese Messungen nur wenige Sekunden und ergänzen damit wirkungsvoll die Ergebnisse schnellscannender Interferometer. Die genannte Kombination hat damit auch das Potential, die wichtige Thematik der Reaktivitätsaufskalierung befriedigend zu untersuchen und fundamentale Antworten zu liefern. Bisher steht uns an der Universität Bremen kein derartiges AFM zur Verfügung.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Rasterkraftmikroskop (FastScan AFM)
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Bremen
• Leiter: Professor Dr. Andreas Lüttge