Atomic Force Microscopy system

• Fachliche Zuordnung: Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2014
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 250378463

Die Arbeitsgruppe ,Molekulare Materialien' am Institut für Angewandte Physik an der Justus-Liebig Universität Gießen beschäftigt sich mit der Präparation, Charakterisierung und Entwicklung von dünnen Filmen aus molekularen Halbleitermaterialien und Organisch-Anorganischen Hybrid¬materialien als Elektrodenmaterialien für neue Bauelemente. Von besonderem Interesse für das Auffinden von grundlegenden Struktur-Eigenschaftsbeziehungen sind dabei die elektrischen Eigenschaften auf mikroskopischer Skala von kristallinen Domänen innerhalb polykristalliner Filme. Da die elektrischen Eigenschaften solcher Proben in hohem Maße von Redoxreaktionen mit einer evtl. Umgebung und von Interkalationsreaktionen mit Reaktanden aus der Umgebung beeinflusst werden, sind Messungen im Hochvakuum und unter kontrollierter Gasumgebung essentiell für ein tieferes Verständnis und eine Optimierung als Elektrodenmaterialien. Für diese Messungen und für analog im Laboratorium für Materialforschung, einem Zentrum der Justus-Liebig-Universität, auftretende Fragen, die zum großen Teil aus dem Kontext von STORE-E einem landesgeforderten Schwerpunktprogramm zur Stoffspeicherung in Grenzschichten stammen werden, soll ein in einer Hochvakuumkammer montiertes Rasterkraftmikroskop-System beschafft werden, das für Messungen mit leitfähig beschich¬teten Spitzen ausgerüstet ist und für Messungen sowohl im Vakuum als auch unter kontrollierter Gasumgebung genutzt werden kann.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Atomic Force Microscopy system
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Justus-Liebig-Universität Gießen
• Leiter: Professor Dr. Derck Schlettwein