Röntgendiffraktometer für epitaktische Schichtsysteme

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2012
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 226735559

Der Antrag erfolgt aufgrund der Einrichtung einer Arbeitsgruppe für funktionale oxidische Grenzflächen an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg. Die Forschung der Arbeitsgruppe betrifft Experimente zu grundlegenden elektronischen Phänomenen in dünnen Schichten komplexer Oxide. Dazu gehören insbesondere leitfähige oder magnetische Oxide, Ferroelektrika und Multiferroika mit Anwendungspotential in der Datenspeicherung, Sensorik, Photovoltaik und Energiespeicherung. Ein Schwerpunkt, der original von der Gruppe begründet wurde, liegt dabei auf elastisch kontrollierbaren elektronischen Eigenschaften durch den Einsatz reversibel dehnbarer Schichtarchitekturen. Methodisch beruht unsere Forschung auf der Präparation epitaktischer Schichtsysteme durch die gepulste Laserdeposition und die unmittelbar anschließende Strukturanalyse durch Verfahren der Röntgendiffraktometrie (Phasen- und Orientierungsanalyse, Gittersymmetrie und Gitterparameter). Die Strukturmessungen werden auch in piezoelektrisch kontrollierten Dehnungszuständen durchgeführt. Das Röntgendiffraktometer erweitert die experimentelle Basis der Fakultät hinsichtlich der Charakterisierung nanostrukturierter Materialien wesentlich und trägt damit zur erklärten Profilbildung der Universität bei.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 4011 Pulverdiffraktometer
• Antragstellende Institution: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg
• Leiterin: Professorin Dr. Kathrin Dörr