Rasterkraftmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Biologische Chemie und Lebensmittelchemie
• Förderung: Förderung in 2012
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 218356161

Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine grundlegende Methode der Oberflächencharakterisierung. Das Gerät ist unbedingte Grundlage für die Forschungsaktivitäten des Hauptantragstellers. Insbesondere sollen adaptive und funktionale Schichtsysteme untersucht werden, die Messungen unter kontrollierten Bedingungen und in Flüssigkeiten erfordern. Für die Charakterisierung von chemisch und topologisch heterogenen Schichten auf sehr unterschiedlichen und meist opaken Substraten ist neben den kontaktmechanischen Messungen eine lateral aufgelöste Spektroskopie notwendig und nur mit der bevorzugten Gerätekonfiguration durchzuführen. Diese Systemlösung erlaubt umfassende Oberflächencharakterisierungen mittels AFM und gleichzeitiger, lateral aufge-löster, konfokaler Raman- und Fluoreszenzmikrospektroskopie. Die Methodiken und ihre Kopplung sind essentiell für die laufenden und zukünftigen Forschungsaktivitäten in den Grenzflächenwissenschaften für mikro- /nanotechnologische Anwendungen, bioaktive Oberflächen, biomimetische Systeme, selbstorganisierte Polymersysteme, Gele und Komposite.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Technische Universität Dresden
• Leiter: Professor Dr. Rainer Jordan