Rasterkraftmikroskop-Optik-System

• Fachliche Zuordnung: Physikalische Chemie
• Förderung: Förderung in 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 178444315

Bisher gibt es an der Universität Siegen kein vergleichbares System. Die bestehenden Rasterkraftmikroskopie (AFM) Systeme sind entweder nicht mehr auf dem Stand der Technik und verfügen nicht über die benötigten messtechnischen Voraussetzungen für Messungen an der fest-flüssig-Grenzfläche, bei kontrollierten Temperaturen und insbesondere für die Kombination mit optischen Methoden. Die überaus vielfältigen Einsatzmöglichkeiten des flexiblen, kombinierten AFM/Optik-Systems reichen über die Einsatzgebiete im Bereich der Nano- & Mikrochemie und der materialwissenschaftlichen & biologischen Themengebiete im Fachbereich Chemie-Biologie und Physik bis hin zu Fragestellungen der Oberflächen- und Werkstoffwissenschaft im Fachbereich Maschinenbau. Der neu besetzte Lehrstuhl Physikalische Chemie wird seine Forschungsaktivitäten zu einem Großteil mit Hilfe dieses Systems entwickeln und ausbauen. Daneben ist die Nachwuchs¬gruppe von Dr. Nöll auf die Kombination von AFM und Einzelmolekülfluoreszenz angewiesen. Alle genannten Fachgebiete werden durch die Beschaffung des einzigartigen Systems in den aktuellen Forschungsprojekten erheblich gestärkt und können durch die erhöhte Konkurrenzfähigkeit neue zukunftsträchtige Forschungsgebiete erschließen. Die Anwendungsschwerpunkte konzentrieren sich auf die nanoskalige bis molekulare Charakterisierung von Grenzflächen, Dynamik von Prozessen an Oberflächen, in begrenzten Dimensionen und mit biologischer/biophysikalischer Relevanz sowie Einzelmolekülcharakterisierung, -transport und -Spektroskopie.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Siegen
• Leiter: Professor Dr. Holger Schönherr