Rasterelektronenmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Materialwissenschaft
• Förderung: Förderung in 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 149177533

Das beantragte Rasterelektronenmikroskop (REM)/dual beam Focused Ion Beam (FIB)) wird benötigt, um Forschungsarbeiten in den Schwerpunkten Grenzflächen von mikro- und nanostrukturierten und funktionalisierten Biomaterialien, Strukturen und Prozesse an Grenzflächen biologischer Materialien, Mikro- und nanostrukturierte Polymere und Nanocomposite und Werkstoffentwicklung durchführen zu können. Sechs Arbeitsgruppen aus zwei Fakultäten (Physikalisch-Astronomische Fakultät und Chemisch-Geowissenschaftliche Fakultät), die sich u. a. diesen Schwerpunkten zuordnen lassen, sind auf die besondere Ausstattung (FIB) und Leistungsfähigkeit dieses Gerätes angewiesen, um ihre Forschungsarbeiten auf dem aktuellsten Stand der Technik durchführen zu können. Nichtleitende Materialien sowie deren Grenzflächen auf nanoskaliger Ebene stehen dabei im Vordergrund. Insbesondere die FIB-Komponente des beantragten Gerätes erlaubt es, wissenschaftliche Fragestellungen zu beantworten, die an der Spitze der aktuellen Forschung stehen und sich mit anderen Methoden nicht oder nur unbefriedigend beantworten lassen. Da die Kombination REM/dual beam FIB /Kryo-Präparation erst seit wenigen Jahren technisch realisiert ist, gibt es weltweit bis jetzt nur sehr wenige veröffentlichte Studien, die diese Gerätetechnik auf dem Gebiet Biomaterialien/Biointerfaces verwenden. Die Friedrich-Schiller-Universität (FSU) wird damit in die Lage versetzt, im Kompetenzbereich der Biointerfaces weltweit eine Spitzenstellung einzunehmen. Für europäische Forschungsprogramme wird die FSU hierdurch zu einem Partner mit führender Forschungs- und Infrastrukturkompetenz.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Antragstellende Institution: Friedrich-Schiller-Universität Jena
• Leiter: Professor Dr. Klaus D. Jandt