Hochauflösendes Röntgendiffraktometer

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2009
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 136498397

Die beteiligten Institute beschäftigen sich im Rahmen des „Joint Optical Metrology Centers“ mit derHerstellung und Charakterisierung von Nanostrukturen auf der Basis neuartiger anorganischer undorganischer Halbleiter- Materialien. Ziel dieser Arbeiten ist die Schaffung von Grundlagen für neuehöchsteffiziente Lichtquellen sowie für Detektoren und Solarzellen vom THz- bis in den ultraviolettenSpektralbereich. Für die strukturelle Charakterisierung dieser komplexen Festkörper-Strukturen ist diehochauflösende Röntgenbeugung ein unverzichtbares Hilfsmittel. Zur Analyse von Verspannungen,von Materialzusammensetzung und Defekten sind Messungen von „space maps“ sowie in-plane-Messungen erforderlich. Aufgrund der geringen Dimensionen von Nanostrukturen erfordert diesjedoch eine extrem hohe Empfindlichkeit und Auflösung, wie sie nur von dem beantragtenDiffraktometer der neuesten Generation gewährleistet wird. Beispielsweise wird die Messzeit für„space maps“ gegenüber älteren Anlagen um einen Faktor 50-100 verkürzt. Gleichzeitig muss für eineeffiziente Nutzung ein hohes Maß an Flexibilität und Bedienerfreundlichkeit vorhanden sein, um auchNicht-Spezialisten den Zugang und die Nutzung der Anlage zu ermöglichen.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 4010 Einkristall-Diffraktometer
• Antragstellende Institution: Technische Universität Braunschweig
• Leiter: Professor Dr. Andreas Hangleiter