Waferprober mit Lasercutter und Zusatzgeräten

• Subject Area: Electrical Engineering and Information Technology
• Term: Funded in 2009
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 86381637

Das hier beantragte System deckt eine Schnittmenge von zentralen Anwendungen in den Arbeitsbereichen IC-Design, Mikromechanik und HF-Anwendungen in der KFZ-Elektronik ab.IC-Design: Charakterisierung von Bauelementen und Inbetriebnahme von Teilsystemen. Hauptsächlich verwendet: Grundgerät, Lasercutter, Std-Probes, HF-ProbesMikromechanik: Kontaktierung und Bearbeitung von mikromechanischen Sensoren.Hauptsächlich verwendet: Grundgerät, Lasercutter, Std-ProbesKFZ-Elektronik: Chip- und SMD-Board-bezogene Anwendungen im HF-Bereich. Hauptsächlich verwendet: Grundgerät, Std-Probes, HF-ProbesDas System stellt einen allgemeinen Zugang zu elektronisch / mechanisch / optischen Mikrosystemendar, der in der FH Köln bislang nirgendwo verfügbar ist.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 2780 Spezielle Meß- und Prüfgeräte für Halbleiter und Röhren (außer 620-659)
• Applicant Institution: Technische Hochschule Köln
• Leader: Professor Dr.-Ing. Andreas Kampmann