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Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode

Subject Area Materials Engineering
Term Funded in 2008
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 80053274
 
Experimentelle Arbeiten zur Physik nanoskalig strukturierter Materialien und Oberflächen erfordern die Charakterisierung der Struktur / des Materials hinsichtlich der geometrischen Abmessungen und der Morphologie auf der Nanometerskala. Gleichzeitig ist sowohl zur Charakterisierung verschiedener Materialien als auch zur Untersuchung von Diffusionsvorgängen eine Analyse der chemischen Zusammensetzung mit hoher Ortsauflösung Voraussetzung. Insbesondere Arbeiten zu magnetischen Eigenschaften nanostrukturierter Oberflächen und zu optischen Eigenschaften von „Nanodots als Funktion der Größe und Oberflächenmodifikation benötigen die Möglichkeit, Strukturabbildungen mit Nanometerauflösung zu erhalten. Darüber hinaus ist hinsichtlich der Untersuchung massiver nanokristalliner Materialien oder auch zur Untersuchung von Wechselwirkungen molekularer Funktionseinheiten mit vorstrukturierten Oberflächen auch die Orientierungsverteilung und die relative Orientierung benachbarter Nanostrukturen (und somit die Natur von Korngrenzen) eine wichtige und beispielsweise hinsichtlich der plastischen Deformation sogar bestimmende Größe. In Kombination mit Möglichkeiten der in-situ-Strukturierung und Verformung lassen sich gekoppelte Phänomene untersuchen, die bislang fast vollständig vernachlässigt wurden. Ein Rasterelektronenmikroskop neuer Bauart mit hinreichender Ortsauflösung und analytischen Möglichkeiten entsprechend obiger Anforderung existiert an der Universität Münster bisher nicht.
DFG Programme Major Research Instrumentation
Instrumentation Group 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
Applicant Institution Universität Münster
 
 

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