Project Details
Projekt
Electrical Scanning Force Microscopy of Nanoparticles and Nanoparticlebased Devices (B14)
Subject Area
Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
Term
from 2008 to 2010
Project identifier
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5483024
Nanopartikel-Bauelemente wie Sensoren oder Transistoren werden meist durch makroskopische Kenngrößen, wie z. B. Strom/Spannungs-Kennlinien, charakterisiert. Mikroskopische Effekte, wie der Kontakt zwischen Elektroden und Partikel, die lokale Potenzialverteilung zwischen Elektroden oder der lokale Stromtransport in Partikel-Netzwerken bleiben verborgen. Ziel dieses Projektes ist eine lokale, elektrische Analyse von Nanopartikel-Bauelementen mittels der Rastersonden- Kelvin-Mikroskopie, um durch quantitativen Zugriff auf Austrittsarbeit und lokale Potenzialverteilung mikroskopische Aussagen über die Bauelement-Funktionalität zu gewinnen.
DFG Programme
Collaborative Research Centres
Applicant Institution
Universität Duisburg-Essen
Project Heads
Professor Dr. Gerd Bacher; Dr.-Ing. Wolfgang Mertin
