SFB 196:
Physik und Chemie optischer Schichten
Fachliche Zuordnung
Physik
Förderung
Förderung von 1993 bis 2002
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5472481
Zentrales Thema sind physikalische und chemische Untersuchungen zu Struktur-Eigenschafts-Relationen für dünne strukturierte Schichten im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen. Basismaterialien sind Siliziumkarbid-Polytypen und nichtlinear-optische Polymere, in denen durch Erzeugung von Gruppe-IV-Nanokristalliten bzw. durch Strukturierung/Dotierung Quantisierung von Elektronen oder Lokalisation von Licht erzielt werden soll. Die wissenschaftlichen Untersuchungen erstrecken sich von der Materialsynthese und Schichtabscheidung über die Charakterisierung mittels vielfältiger Methoden bis hin zur Erforschung und Beschreibung physikalisch-chemischer Effekte in diesen Systemen. Im Mittelpunkt stehen dabei die optischen und nichtlinear-optischen Eigenschaften.
DFG-Verfahren
Sonderforschungsbereiche
Abgeschlossene Projekte
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A1 - Zusammenhang von Schwingungsspektren und Struktur sowie optischen Eigenschaften dünner Schichten
(Teilprojektleiterinnen / Teilprojektleiter
Dunken, Helga
;
Hobert, Hartmut
)
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A3 - Epitaxie und Analyse niedrigdimensionaler Strukturen aus Gruppe IV-Halbleitern
(Teilprojektleiter
Richter, Wolfgang
;
Schröter, Bernd
)
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A4 - Strukturierung, Kristallisation und Modifizierung physikalischer Eigenschaften von Siliziumkarbid duch Ionenbestrahlung und Nachfolgeprozesse
(Teilprojektleiter
Wesch, Werner
)
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A5 - Thermomechanische Messmethoden als Beitrag zur Strukturaufklärung von SiC
(Teilprojektleiter
Riesenberg, Rainer
)
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A8 - Geometrie und Eigenschaften von nanostrukturierten Gruppe-IV-Halbleitern
(Teilprojektleiter
Bechstedt, Friedhelm
)
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A9 - Präparation von Dünnschichten aus kristallinem SiGeC mittels lasergestützter Methoden
(Teilprojektleiter
Falk, Fritz
;
Stafast, Herbert
)
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A10 - Charakterisierung von Fremdatomen und Quantenstrukturen in Gruppe-IV-Halbleiterschichten
(Teilprojektleiter
Witthuhn, Wolfgang
)
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A11 - Röntgendiffraktometrische Untersuchungen von niedrigdimensionalen Strukturen
(Teilprojektleiter
Goetz, Konrad
;
Kräusslich, Jürgen
)
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A12 - Bestimmung der Morphologie, Struktur und Spannungsfelder von Nanostrukturen
(Teilprojektleiterinnen / Teilprojektleiter
Glatzel, Uwe
;
Kaiser, Ute
)
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A13 - Herstellung vergrabener Gruppe IV-Nanokristalle in SiC durch Ionenstrahlprozesse
(Teilprojektleiter
Wesch, Werner
)
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B1 - Lokalisierung von Licht in diskreten und sissipativen nichtlinaren Systemen
(Teilprojektleiter
Lederer, Falk
)
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B2 - Synthese von neuen NLO-Polymeren
(Teilprojektleiter
Hörhold, Hans-Heinrich
)
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B3 - Synthese von strukturmodifizierten amorphen optischen Schichten mit nichtlinearen optischen Eigenschaften
(Teilprojektleiter
Bürger, Herbert
)
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B4 - Photochemie und Photophysik von Farbstoffen in Polymer- und Langmuir-Blodgett-Schichten mit nichtlinear optischen Eigenschaften
(Teilprojektleiter
Grummt, Ulrich-Walter
)
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B5 - Experimente zur räumlichen Lokalisierung von Licht in nichtlinear-optischen Systemen
(Teilprojektleiter
Bräuer, Andreas
)
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B7 - Theorie der linearen und nichtlinearen optischen Konstanten von Wide-Band-Gap-Halbleitern und -Strukturen
(Teilprojektleiter
Bechstedt, Friedhelm
)
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B8 - Dispersion und Zeitabhängigkeit der optischen Nichtlinearität dritter Ordnung
(Teilprojektleiterin
Rentsch, Sabine
)
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B9 - Nichtlinear optische Eigenschaften von Nanokristallen in SiC und von Polymeren
(Teilprojektleiter
Sauerbrey, Roland
)
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B10 - Synthese und Photophysik von Polyheteroarylene und ihrer Metallchelate
(Teilprojektleiterinnen / Teilprojektleiter
Grummt, Ulrich-Walter
;
Klemm, Elisabeth
)
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B12 - Brechzahlmodifikation in optisch transparenten Materialien durch Strukturänderungen bei Bestrahlung mit ultrakurzen Lichtpulsen
(Teilprojektleiter
Tünnermann, Andreas
)
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C1 - Röntgenographische Strukturuntersuchungen von SiC-Polytypen und -Schichtsystemen
(Teilprojektleiter
Goetz, Konrad
)
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C2 - Mikroanalytische und mikroskopische Charakterisierung dünner Schichten
(Teilprojektleiter
Wendt, Michael
)
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C3 - Streulichtspektroskopie und Rasterkraftmikroskopie zur Mikrostrukturanalyse optischer Schichten
(Teilprojektleiterin
Duparré, Angela
)
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D1 - Verwaltung des SFB
(Teilprojektleiter
Bechstedt, Friedhelm
)
