SPP 735:  Automatische Sichtprüfung technischer Objekte

• Subject Area: Mechanical and Industrial Engineering
• Term: from 1995 to 2001
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5466234

Das wissenschaftliche Programm zielt auf die Erarbeitung einer Systematik von Verfahren und Lösungen bei technischen Sichtprüfungsaufgaben, die den Ingenieuraufwand für die einzelne Anwendung drastisch vermindern und möglichst universell anwendbar sind. Dabei ist das Gesamtsystem einer Sichtprüfung einzubeziehen, das aus dem zu überwachenden Fertigungsprozess, der Optik mit Beleuchtung und aus der Verarbeitung einschließlich Signalvorverarbeitung,Merkmalsextraktion und Klassifikation besteht. Der Arbeitsschwerpunkt liegt insbesondere auf Systemen, die Tiefeninformationen einbeziehen, eine parallele optische Abtastung nutzen, modellgestützte Verfahren für den Zusammenhang zwischen Prozess- und Prüfmerkmalen anwenden, adaptives und lernendes Verhalten zeigen sowie Echtzeitbedingungen bei hohen Prüffrequenzen und bewegten Objekten erfüllen.

• DFG Programme: Priority Programmes

Projects

• Adaptive Formvermessung mit strukturierter Beleuchtung für technische Oberflächen in beliebiger Lage (Applicant Kowarschik, Richard )
• Adaptive Industrieroboterprogrammierung auf Basis einer automatischen, optischen Sichtprüfung (Applicant Kreis, Willibald )
• Adaptive Industrieroboterprogrammierung auf Basis einer automatischen, optischen Sichtprüfung (Applicant Tölg, Sebastian )
• Adaptive optical 3D-measurment system with micro-mirror porjection for technical objects within small and medium volumes (Applicant Kowarschik, Richard )
• Adaptive Sichtprüfung mit neuen Bildverarbeitungsstrategien (Applicant Bley, Helmut )
• Adaptive Sichtprüfung mit neuen Bildverarbeitungsstrategien (Applicant Janocha, Hartmut )
• Adaptives Verfahren zur Bestimmung der Streifenphase (Applicant Küchel, Michael )
• Automatische Sichtprüfung mit synthetischen Hologrammen (Applicant Thiel, Jürgen )
• Automatische Sichtprüfung mit synthetischen Hologrammen (Applicant Pfeifer, Tilo )
• Automatische Sichtprüfung technischer Objekte unter Einbeziehung von 3D-Information (Applicant Häusler, Gerd )
• Beiträge zur Automatisierung der Verformungsmessung an komplex strukturierten Oberflächen mit kohärent-optischen Meßverfahren (Applicant Hinsch, Klaus )
• Bestimmung photometrischer Invarianten mittels Analyse des Polarisationszustandes von reflektiertem Licht (Applicant Burkhardt, Hans )
• Defekterkennung und Formvermessung mittels neuer Zeitfrequenz-Speckle-Technik (Applicant Tiziani, Hans J. )
• Demonstrator für die parallele optisch inkohärente Laufzeitmessung mit 3D-ortsauflösenden Photomischdetektoren (PMD) für die Integrierte 2D/3D-Geometrieprüfung und Szenenanalyse (Applicant Schwarte, Rudolf )
• Einsatz der evolutionären Programmierung zur automatischen Algorithmusfindung in der automatischen Sichtprüfung technischer Objekte (Applicant Nickolay, Bertram )
• Einsatz digitaler Mikrospiegel in der manuellen und automatisierten Sichtprüfung (Applicant Tiziani, Hans J. )
• Einsatz von wissensbasierten Verfahren zur Adaption eines realzeitfähigen Sichtprüfsystems an neue Aufgabenstellungen (Applicant Liedtke, Claus-Eberhard )
• Entwicklung einer Strategie zur automatisierten Optimierung von Grauwertbildern in der technischen Sichtprüfung (Applicant Pfeifer, Tilo )
• Entwicklung eines Sensors für die 3D-Inspektion technischer Oberflächen mit Streulichtanalyse - exemplarisch für gehonte Oberflächen (Applicant Truckenbrodt, Horst )
• Erweiterung eines neuentwickelten Laser-Radar-Systems auf ein faseroptisches parallel arbeitendes Mehrkanalsystem (Applicant Stojanoff, Christo G. )
• Gesamtkonzept für eine flexible und adaptive Automatisierung der Bewertung technischer Oberflächen (Applicant Melchior, Klaus )
• Implementierung einer volumenholographischen Datenbank in ein kohärent-optisches Sichtprüfungssystem auf der Basis photorefraktiver Neuigkeitsfilterung (Applicant Denz, Cornelia )
• Informationstechnische Rückführung von Prüfergebnissen zur Adaption von Prüf- und Fertigungsprozessen (Applicant Rembold, Ulrich )
• Inspektionssystem zur Defektanalyse und -topometrie mittels diffraktiver konfokaler Mikroskopie (Applicant Tiziani, Hans J. )
• Integrierte 2D/3D-Geometrieprüfung und Szenenanalyse (Applicant Loffeld, Otmar )
• Invariante Textursegmentierung mit Mehrkanalfilterung (Applicant Hosticka, Ph.D., Bedrich )
• Konturvermessung durch Selbstüberlagerung (Applicant Höfler, Heinrich )
• Lage-, rotations- und skaleninvariante Texturerkennung mit reduziertem Bedieneraufwand (Applicant Hosticka, Ph.D., Bedrich )
• Lernfähige Defektklassifikation mittels Streulichtsensoren (Applicant Rothe, Hendrik )
• Methoden zur adaptiven Extraktion invarianter Merkmale aus Grauwertbildern und deren Anwendung in der Sichtprüfung (Applicant Burkhardt, Hans )
• Modellgestützte Erkennung von Materialfehlern mittels optischer Sichtprüfung durch Bildsynthese und aktive Belastungsänderung (Applicant Osten, Wolfgang )
• Modellgestützte Erkennung von Materialfehlern mittels optischer Sichtprüfung durch Bildsynthese und aktive Belastungsänderung (Applicant Paulus, Dietrich )
• Neuartige Methoden der automatischen Sichtprüfung räumlicher Objekte unter Berücksichtigung von Tiefeninformationen (Applicant Linß, Gerhard )
• Neue Strategien für die automatische Sichtprüfung bei kontinuierlich laufenden Fertigungsprozessen (Applicant Paul, Detlef )
• Optische Demodulationstechniken zur Entfernungsmessung und Erzeugung dreidimensionaler Bilder durch Phasenmessung (Applicant Müller, René )
• Prüfung der Mikrotopografie und Defekterkennung an rauhen und strukturierten technischen Oberflächen mittels Streulichtanalyse (Applicant Truckenbrodt, Horst )
• Quantitative Schleifmodusbeurteilung an Präzisionskeramik durch Planarflächenbewertung optischer 3D-Geometriestrukturen (Applicant Dietzsch, Michael )
• Robustes, bildgebendes, absolut messendes Interferometer (BAMI) als 3D-Sensor mit großer Höhenauflösung und Meßdistanz und hoher Datenrate (Applicant Leuchs, Gerd )
• Robustes, bildgebendes, absolut messendes Interferometer (BAMI) als 3D-Sensor mit großer Höhenauflösung und Meßdistanz und hoher Datenrate (Applicant Telle, Harald Roland )
• Sichtprüfung mit Aktiver Bildverarbeitung (Applicant Pandit, Madhukar )
• Sichtprüfung mit aktiver Bildverarbeitung (Applicant Pandit, Madhukar )
• Speckle Technik für die Topographiemessung bei der automatischen Sichtprüfung (Applicant Tiziani, Hans J. )
• Untersuchung von Methoden zur Formprüfung bei ausgedehnten Objekten mittels adaptiver dreidimensionaler Formerfassung (Applicant Jüptner, Werner )
• Visualisierung von Formfehlern und Defekten an asphärischen Objekten (Applicant Tiziani, Hans J. )
• Visuelle Echtzeitvermessung von räumlichen Deformationsprozessen mit komplex codierter Szenenbeleuchtung (einschl. spektraler Codierung) (Applicant Stanke, Gerd )
• Zerstörungsfreie Prüfung der Textur spanend bearbeiteter Oberflächen anhand von 2D- bzw. 2½ D-Daten der Oberfläche (Applicant Mesch, Franz )

• Spokesperson: Professor Dr.-Ing. Franz Mesch