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Mössbauerspektroskopie an ionenimplantierten magnetischen Halbleitern

Subject Area Mechanical Properties of Metallic Materials and their Microstructural Origins
Term from 2004 to 2010
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5438179
 
Die Ionenimplantation ist eine einzigartige Methode für die Synthese neuer magnetischer Materialien in oberflächennahen Bereichen. Dieses Verfahren soll angewandt werden, um verdünnte magnetische Halbleiterschichten (DMS) (z.B. GaN:Fe, SiC:Fe, ß-FeSi2:Mn) herzustellen. Derartige Systeme besitzen ein hohes Potential für neuartige elektronische Bauelemente/Sensoren. Neben konventionellen Messverfahren soll als wichtigste Analysenmethode die 57 Fe-Mössbauerspektroskopie (CEMS) zum Einsatz kommen, mit der man atomistische Informationen, z.B. über Phasenzusammensetzung, magnetische Ordnung und chemischen Valenzzustand der Fe-Atome, gewinnen kann. Insbesondere soll geklärt werden, ob interstitiell gelöste Fe-Ionen zum Ferromagnetismus beitragen, wie es die Theorie beschreibt. Ein wichtiger Aspekt ist der CEMS-Nachweis möglicher Sekundärphasen (magnetische Cluster) als Folge der Ionenimplantation bzw. Wärmebehandlung und deren Einfluss auf die magnetischen Eigenschaften. Im Fall von ß-FeSi2:Mn ist das SondenatoM 57Fe Bestandteil des Ausgangsmaterials. Hier kann mittels CEMS herausgefunden werden, auf welchem Platz das Mn im Silizidgitter eingebaut wird.
DFG Programme Research Grants
Participating Person Professor Dr. Heiko Wende
 
 

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