Ein interessantes Materialsystem für die Charakterisierung mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie stellt das System Niob-Sauerstoff aufgrund der Vielzahl an möglichen oxidischen Verbindungen mit unterschiedlichen elektronischen Eigenschaften dar, für die in der Literatur noch keine Referenzdaten vorhanden sind. Ziel des vorliegenden Projektvorhabens ist es deshalb, Referenzspektren von unterschiedlichen Nioboxiden mit bekannter Stöchiometrie mittels EEL-Spektroskopie im Transmissionselektronenmikroskop aufzunehmen, um F-Faktoren experimentell zu bestimmen und die Feinstrukturen der O-K sowie der Nb-M2,3 und M4,5 Kanten zu ermitteln. Basierend auf den Referenzspektren sollen die lokale Stöchiometrie und die lokalen elektronischen Eigenschaften dünner amorpher Nioboxid-Dielektrikumsschichten in hochkapazitiven SMD Elektrolytkondensatoren untersucht werden, für die die hohe räumliche Auflösung von EELS im Transmissionselektronenmikroskop entscheidend ist.
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