Entwicklung und Anwendung von Siliziumdetektoren

• Antragsteller: Dr. Eckhard Fretwurst
• Fachliche Zuordnung: Kern- und Elementarteilchenphysik, Quantenmechanik, Relativitätstheorie, Felder
• Förderung: Förderung von 2000 bis 2006
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5305508

Das Vorhaben "Entwicklung und Anwendung von Siliziumdetektoren" beinhaltet die Verbesserung und Untersuchung mikrostrukturierten Detektoren mit hoher Ortsauflösung für Anwendungen in der Teilchenphysik und anderen physikalisch-technischen Bereichen sowie vor allem die Entwicklung strahlenharter Siliziumzähler für Anwendungen in zukünftigen Experimenten in der Teilchenphysik, der Weltraumforschung und Experimenten mit Synchrotronstrahlung. Im erstgenannten Bereich stehen Untersuchungen und Device-Simulationen von Mikrostreifendetektoren für den Aufbau eines Silizium-Vertex-Detektors im ZEUS-Experiment bei HERA, eines Si-Pixeldetektors für den TESLA-FEL (Free Electron Laser) bei DESY und von Photodioden mit 105-facher Verstärkung im Vordergrund.Auf dem Gebiet der Strahlenschäden wurden erste Erfolge bei der Verbesserung der Strahlenhärte durch Anreicherung des Siliziums mit Sauerstoff erreicht. Durch systematische Untersuchungen der Defektgeneration, Kinetik und der Defekteigenschaften soll versucht werden, die Schädigungsmechanismen besser zu verstehen, um dann durch ein gezieltes "defect engineering" die Strahlenhärte noch weiter zu erhöhen.

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen