Herstellung und Charakterisierung kristalliner Rubren- und Pentacenfilme in FET-Strukturen

• Applicant: Professor Dr. Christof Wöll
• Subject Area: Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
• Term: from 2001 to 2008
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5305052

In diesem Projekt soll das Wachstum ultradünner Pentacenschichten auf einkristallinen Metalloberflächen untersucht werden. Im Hinblick auf den Einsatz in einem organischen Feldeffekttransistor (OFET) wollen wir als Substrate Metalloberflächen (source und drain-Kontakte) und Isolatoroberflächen (Al2O3, SiO2) verwenden. Alternativ soll neben den klassischen anorganischen Isolatoren die Eigenschaften einer organischen Isolatorschicht aus längeren Alkanen analysiert werden. Von besonderem Interesse ist die Frage, inwieweit die Orientierung der Moleküle durch Aufbringen selbstorganisierter Schichten, (SAMs, Organothiole, Organosilane) auf die Isolator- und Metallsubstrate manipuliert werden kann. Die strukturelle Charakterisierung der Pentacenschichten soll mittels Beugung niederenergetischer Elektronen (LEED) und Rastertunnelmikroskopie (STM) erfolgen, die elektronische Struktur soll mittels Röntgenabsorptionsspektroskopie (NEXAFS) und Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) bestimmt werden.

• DFG Programme: Priority Programmes
• Subproject of: SPP 1121: Organic Field Effect Transistors: Structural and Dynamical Properties
• Participating Person: Professor Dr. Gregor Witte