Erforschung der Zusammenhänge zwischen externer Verspannung und Generation tiefer Zentren in Halbleiterstrukturen von Dioden-Laserbauelementen
Subject Area
Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
Term
from 1999 to 2004
Project identifier
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5228382
No abstract available
DFG Programme
Research Grants
