Aufklärung der Einbau- und Kompensationsmechanismen von Störstellen in GaN-Halbleiterstrukturen mittels linearer und nichtlinearer optischer Spektroskopie

Applicant Professor Dr. Axel Hoffmann
Subject Area Condensed Matter Physics
Term from 1997 to 2000
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5197419
 

Project Description