Ganzheitliche Modellierung integrierter verlustarmer Erkennungssysteme unter Berücksichtigung der Parameterstreuungen von Prozess und Bauelementen bei der mikroelektronischen Integration
Subject Area
Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
Term
from 1999 to 2003
Project identifier
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5171310
Zum heutigen Stand der Technik finden erkennende Systeme breiten Einsatz in einer Vielfalt von Applikationen, wie u.a. in Sprach-, Bild-, oder Schrifterkennung. Der Entwicklung dedizierter VLSI-Systeme für verlustarme und kompakte Erkennungssysteme bietet sich durch die Möglichkeiten analoger bzw. gemischt analog/digitaler Realisierung (Subthreshold-Schaltungstechnik, opportunistisches Design) ein großes Potential. Viele Entwurfsansätze beschränken sich jedoch in der Betrachtung und Validierung nur auf ein Teilsystem, so daß die tatsächliche Funktionalität des Gesamtsystems nicht sichergestellt ist. Der hier vorgeschlagene ganzheitliche Ansatz bietet den Vorteil eines systematischen Top-Down-Entwurfs unter Berücksichtigung der Optimierungsziele (Verlustleitung, Fläche, Geschwindigkeit) bei Sicherstellung der Informationsverarbeitungsfähigkeit des Gesamtsystems. Eine Bewertung neuer, verlustarmer Konzepte, von den Algorithmen bis zu den Schaltungsprimitiva oder Bauelementen, ist damit auf Systemebene möglich.
DFG Programme
Priority Programmes
