Entwicklung eines kombinierten Rasterkraft- und Magnetresonanzkraft-Mikroskops für die mechanisch detektierte Elektronenspinresonanz-Spektroskopie und -Mikroskopie

Die mechanische Detektion von Elektronen- und Kernspinresonanz (EPR, NMR) mit Hilfe der aus der Kraftmikroskopie (AFM) hervorgegangenen Magnetresonanzkraftmikroskopie, MRFM (Magnetic Resonance Force Microscopy) weist in bestimmten Fällen deutlich niedrigere Nachweisgrenzen und eine höhere räumliche Auflösung auf als die konventionellen induktiven Methoden. Die Kombination mit rasterkraftmikroskopischen Techniken (MRFM) erlaubt eine neue abbildende und chemisch sensitive Mikroskopie, die bei variierendem Abstand eines geeignet gewählten miniaturisierten Gradientmagneten als Meßsonde auch die (chemische) Charakterisierung verborgener Grenzflächen erlaubt. Aufbauend auf eigenen Voruntersuchungen mit EPR-MRFM unter normalen Umgebungsbedingungen soll die Methode weiterentwickelt und speziell auf die lokale Spektroskopie ausgedehnt werden. Der Schwerpunkt des Vorhabens soll hierbei auf der für Anwendungen in der Mikrobiologie und der Halbleiterelektronik interessanten EPRSpektroskopie und -Mikroskopie liegen.

DFG-Verfahren Sachbeihilfen