In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie von resistiv schaltenden Bauelementen
(B09)
Fachliche Zuordnung
Experimentelle Physik der kondensierten Materie
Förderung
Förderung von 2015 bis 2023
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 167917811
Im Projekt B9 liegt der Schwerpunkt auf der in situ TEM-Charakterisierung neuartiger PCM- und VCM-Materialien während des Schaltvorgangs. Änderungen der Atomstruktur und der lokalen elektrischen Feldverteilungen werden mit sub-nm räumlicher Auflösung verfolgt, wobei sowohl pixelige STEM-Techniken als auch die Elektronenholographie außerhalb der Achse verwendet werden. Bei PCMs wird der Schwerpunkt auf Studien an räumlich begrenzten Bauelementen liegen, bei denen die kleine Bauteilgröße und die kurzen Verweilzeiten die Bildgebung erschweren. Bei VCMs liegt der Schwerpunkt auf Defektstudien, die eine strukturelle und chemische Analyse mit subatomarer Auflösung erfordern.
DFG-Verfahren
Sonderforschungsbereiche
