Dual Beam Anlage mit EBSD

• Subject Area: Materials Engineering
• Term: Funded in 2015
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 270067011

Das IWM beschäftigt sich mit dem Einfluss des Gefüges auf die Eigenschaften von metallischen Legierungen, technischer Keramik und Hartmetallen. Die Werkstoffentwicklung bewegt sich in Richtung immer feinerer Gefüge, deren charakteristische Dimensionen sich vom Submikronbereich bis in den Nanobereich erstrecken. Ihre Analyse erfordert hoch auflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope (FE-REM). Nach der Berufung von Prof. Broeckmann vor 5 Jahren wurden neue Themengebiete erschlossen, wie z.B. die Entwicklung transparenter Nanokeramik, die Untersuchung der Rissaussbreitung in feinkristallinem Hartmetall, die Simulation von Ausscheidungsvorgängen beim Anlassen von Stahl und die Herstellung feinkristalliner Gefüge mittels SPSTechnologie. Um diese Forschungsarbeiten durchführen zu können, hat das Institut zum bereits vorhandenen konventionellen REM ein altes, gebrauchtes FE-REM angeschafft. Dieses FE-REM ist nun defekt, genügt aufgrund der veralteten Technologie nicht mehr den Anforderungen und soll durch ein modernes Gerät ersetzt werden. Um im internationalen Umfeld konkurrenzfähig zu bleiben, erfordern die vom IWM bearbeiteten Forschungsthemen darüber hinaus Analysen mittels EBSD-Technik und Experimente mit einer FIB-Anlage. Das neu zu beschaffende FE-REM soll daher mit diesen beiden Zusatzoptionen ausgerüstet werden.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Major Instrumentation: Dual Beam Anlage mit EBSD
• Instrumentation Group: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Applicant Institution: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
• Leader: Professor Dr.-Ing. Christoph Broeckmann