Argon Cluster Quelle mit integriertem Focus Ion Beam System für die Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie

• Subject Area: Chemical Solid State and Surface Research
• Term: Funded in 2013
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 249230287

Die Untersuchung von biologischen und organischen Proben ist in der Sekundärionenmassenspektrometrie problematisch, da mit konventionellen Analyse- und Sputterquellen die vorhandenen Moleküle zu stark fragmentiert, bzw. beim Tiefenprofilieren die Probenbestandteile bereits nach kurzer Zeit „vermischt" werden. Bei der Verwendung einer Argon-Clusterquelle sind diese Effekte deutlich unterdrückt. Auch vergleichsweise schwere Vorläufermoleküle bleiben beim Ionenbeschuss unfragmentiert und können als Sekundärion delektiert werden. Da in unserer Arbeitsgruppe vermehrt organische und biologische Proben untersucht werden, die auch in den mitnutzenden Gruppen studiert werden, soll das vorhandene Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer mit einer Argon-Clusterquelle sowie einer Focused Ion Beam-Quelle (FIB) nachgerüstet werden. Letztere ermöglicht die kontaminationsfreie Herstellung von Probenquerschnitten, die anschließend massenspektrometrisch analysiert werden.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Major Instrumentation: Argon Cluster Quelle mit integriertem Focus Ion Beam System für die Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie
• Instrumentation Group: 1720 Spezielle Massenspektrometer (Flugzeit-, Cyclotronresonanz-, Ionensonden, SIMS, außer 306)
• Applicant Institution: Justus-Liebig-Universität Gießen
• Leader: Professor Dr. Jürgen Janek