Das Gerät wird im Wesentlichen für die Durchführung von Hochauflösungs-XRD-Pulveraufnahmen bei Raumtemperatur und erhöhten Temperaturen eingesetzt. In Arbeiten an Perowskiten (Ca(Fe,Ti,Mn)O3) wurden Pulveraufnahmen von 25 – 1000oC aufgenommen. Die entsprechenden Diagramme wurden durch Rietveldverfeinerungen ausgewertet. Dabei waren besonders die Gitterparameter, die Raumgruppenänderungen, Phasenübergänge und Änderungen struktureller Parameter bei unterschiedlichen Temperaturen von besonderem Interesse. Neben der zur Verfügung stehenden Mo-Röntgenröhre sind auch die Untersuchungen bei non-ambient Bedingungen sehr wesentlich. Weitere Arbeiten beschäftigten sich mit der Verbindung C2S (Dicalciumsilikat – eine Zementphase) und deren Modifikationsänderungen bei Fremdioneneinbau, mit dem Ziel der Variation der unterschiedlichen Hydratationsgeschwindigkeiten und Untersuchung der zugrundeliegenden Ursachen. Ebenfalls wurden Untersuchungen zum CELITEMENT und den Phasen durchgeführt. Verschiedene Hydratstufen von Schichtstrukturen und deren Charakterisierung spielen bei den Ca-organischen Verbindungen eine wichtige Rolle. Die vorliegenden Daten wurden auch als Basisdaten für die Messung der Strukturen verschiedener Verbindungen am vorhandenen Einkristalldiffraktometer gewonnen. Grundlegende Daten für die CT-Messung an dünnen Gesteinsproben, bzw. Mörtelproben wurden ebenfalls gewonnen. In den Lehrveranstaltungen wird die verbesserte Auflösung und erhöhte Intensität die mit dem Gerät erreichbar sind ermöglicht, um auch kleine Veränderungen in den Strukturen der Verbindungen noch aufzulösen. Die Grundlage zur Verwendung des Geräts für kommende MS-Arbeiten und Promotionen ist dadurch geschaffen.