Lokale Ladungen (Monopole, Dipole und Multipole) sind für viele Grenzflächeneigenschaften maßgebend verantwortlich (Optik, elektronischer Transport, etc.). Eine Aufklärung der Ladungen auf atomarer und molekularer Skala soll im Rahmen dieses Projektes mit Hilfe der Kelvinsonden- Rasterkraftmikroskopie unter sehr definierten Bedingungen (Ultrahochvakuum, Tieftemperatur) erfolgen. Die bekannten, makroskopisch vermessenen Eigenschaften der Grenzflächen sollen dabei mit den lokal detektierbaren Ladungen assoziiert und mikroskopisch erklärbar werden. Dabei werden vorhandene Ladungen quantitativ erfasst und sowohl räumlich als auch zeitabhängig dargestellt. Durch den Einsatz definierter Rastersondenspitzen und einer zeitlichen Kopplung im Nanosekundenbereich erreichen wir ein sehr schlagkräftiges, neues Werkzeug zur Aufklärung von sowohl statischen als auch dynamischen Prozessen auf der Sub-1-Nanometer-Längenskala.
DFG Programme
Research Grants
Major Instrumentation
Rastersonden Elektronik
Instrumentation Group
5091 Rasterkraft-Mikroskope
