Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Fachbereich 8.1: Sensorik, mess- und prüftechnische Verfahren
Address
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Deutschland
GERiT
This institution in GERiT
12205 Berlin
Projects
Collaborative Research Centres
Completed projects
Mikroskopische Charakterisierung von Reibprozessen und Analyse elementarer Modellreibkontakte
(Project Head
Santner, Erich
)
Research Grants
Completed projects
Experimentelle Untersuchungen und numerische Modellbildung zur Beschreibung des Funktionsverhaltens wälzbeanspruchter Schichtsysteme
(Applicant
Santner, Erich
)
Fibre-based magneto-optic layer-sensor (FAMOS²)
(Applicants
Bartholmai, Matthias
;
Beck, Uwe
;
Schukar, Vivien G.
)