Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Fachbereich 8.1: Sensorik, mess- und prüftechnische Verfahren
Adresse
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Deutschland
GERiT
Diese Institution in GERiT
12205 Berlin
Projekte
Sonderforschungsbereiche
abgeschlossene Projekte
Mikroskopische Charakterisierung von Reibprozessen und Analyse elementarer Modellreibkontakte
(Teilprojektleiter
Santner, Erich
)
Sachbeihilfen
abgeschlossene Projekte
Experimentelle Untersuchungen und numerische Modellbildung zur Beschreibung des Funktionsverhaltens wälzbeanspruchter Schichtsysteme
(Antragsteller
Santner, Erich
)
FAser-basierter Magneto-Optischer SchichtSensor (FAMOS²)
(Antragstellerinnen / Antragsteller
Bartholmai, Matthias
;
Beck, Uwe
;
Schukar, Vivien G.
)
