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Institution

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Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Fachbereich 8.1: Sensorik, mess- und prüftechnische Verfahren
Fachabteilung Sensorik, mess- und prüftechn

Adresse Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Deutschland

GERiT Diese Institution in GERiT

12205 Berlin

Projekte

Sachbeihilfen
- abgeschlossene Projekte
  - FAser-basierter Magneto-Optischer SchichtSensor (FAMOS²)
    (Antragstellerinnen / Antragsteller Bartholmai, Matthias ; Beck, Uwe ; Schukar, Vivien G. )

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